DRAM 温度偏置老化测试：模拟存储芯片在高低温环境下的长期带电工作状态，提前暴露潜在的漏电、信号失真、时序漂移等失效问题，是 JEDEC 标准中可靠性验证的关键环节。

环境可靠性测试：兼容半导体器件的温度循环、快速温变、高低温带电等测试需求，覆盖消费级、工业级、车规级 DRAM 的可靠性验证场景。

批量测试与数据追溯：支持多通道并行测试，可同时对多个 DRAM 样品进行偏置加载与环境应力试验，并完整记录测试数据，满足研发与量产阶段的品质管控需求。